用于瓦里安ICP-MS的超純室設備：

因為半導體元件冷熱收縮和藥品污染的承受力降低，使用ICP-MS對化學試劑的質量控制和整體決定就變得更加關鍵。瓦里安ICP-MS的超純室設備，可以為您提供所需要的免污染環境。該套設備與瓦里安ICP-MS的生產指導標準相結合，完善的系統可以使您在高度靈敏的環境條件下達到可能得到的最低檢出限。

優點：

• 整體上維持在高度靈敏的環境。 所有的真空泵都被裝設在儀器內部，從泵體和儀器內交換出的氣體將被排除在整個清潔環境之外。
• 節省實驗室空間。 所有的泵都被設置在ICP-MS儀器機體內部，確保在任何商業上通用的ICP-MS系統中是最小的。
• 該環境下的ICP-MS最靈敏。 適合使用此超純室設備的瓦里安ICP-MS，將來自氧化物離子的干擾維持在最低限度的同時，可提供高達數千兆赫的靈敏度（超過10億計數每秒每mg/L）
• 臨界冷等離子工作性能。 瓦里安ICP-MS的特色在于取得了專利權的Turner Interlaced 線圈。這種90度離子反射離子光學設計可以獲得高靈敏度，低背景。
• 在保持高靈敏度的狀態下降低背景。 瓦里安ICP-MS的特點在于使用了擁有專利的具有彎曲入口桿的兩離軸的四極桿設計。
• 盡可能低的檢出限。 瓦里安的ICP-MS，通過在樣品制備和引入過程中盡可能地降低和控制污染，提供了大大改善的檢測靈敏度。

包含了一個O型環惰性樣品引入裝置的環境凈化設備由以下部分組成：

• 惰性PFA，雙通道噴霧室Peltier制冷，從而把來自氧化物離子的干擾降至最低。也可以進行腐蝕性樣品和包括氫氟酸在內的酸性物質的分析。
• 對使用氫氟酸來說，采用低流速和惰性PFA噴霧是必要的安全措施。為使得噴霧狀態保持在最佳，氣體傳輸過程中的保護也是必要的。
• 一種半可拆卸式的高純鉑進樣管，可以降低來自進樣過程中的污染。
• 一對高純G-系列鉑尖端界面錐體，可增加耐腐蝕性樣品和酸性樣品的壽命。